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Rotadata公司的Paul Kirkland先生将于2004年3月18-25日期间拜访中国客户

Rotadata公司的Paul Kirkland先生将于3月18日至3月25日期间拜访国内客户，届时，我们将就备受关注的Rotadata产品进行技术交流。这次讲解的主要内容如下：
1.Caplong叶尖间隙测量系统 2.RotamapII红外测温系统

1.1 Caplong 系统探针定制 2.1 RotamapII系统视管定制及安装

1.2 Caplong探针安装 2.2 RotamapII系统操作流程

1.3 Caplong软件功能 2.3 RotamapII系统配置

1.4 Caplong探针校准 2.4 RotamapII系统校准

1.5 Caplong系统配置